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OItek带您在PCB板上“秀干扰”?
- 发布时间:2017-05-23 10:48:14
研发好工具:定位电磁场敏感点、测量瞬态电磁场空间分布、评估电路或电路板对瞬态电磁场抗干扰能力!
OIE1研发阶段抗扰度测试套件也为抗干扰开发系统,用来模拟所开发出来设备的干扰过程,干扰电流、电场和磁场直接注入到电子模块,以不同方式来确定电路板上的敏感结构,了解耦合机制,使设备达到最佳抗干扰能力。众所周知,产品抗干扰设计来源于企业对产品质量的追求,同时也是电磁兼容性测试(EMC)标准的要求。同时,在抗干扰测试和设计中,由于瞬态干扰具有快速和宽频谱等特点, 传统示波器和频谱分析仪等手段,都无法准确测量瞬态电磁场和很难测量干扰电流的路径。以往产品的抗干扰设计,只能在产品定型后最终测试阶段来考虑;此时,采取的手段是屏蔽或滤波,对外界干扰进行屏蔽隔离或者滤波直接引到接地系统。海洋仪器推出的抗干扰开发系统,具备的多种组成工具,帮助工程师采用多种策略来检测电路或印刷电路板上的抗干扰问题,尤其抗瞬变突发干扰能力。
OIE1抗干扰开发系统在近场电磁兼容性(EMC)测试中,符合以下EMC突发干扰测试项目:GB/T-17626.4(IEC61000-4-4)电快速瞬变脉冲群抗扰度试验、GB/T-17626.2(IEC61000-4-2)静电放电抗扰度试验、GJB151A/152A-CS115电缆束注入脉冲激励传导敏感度、GJB151A/152A-RS105瞬变电磁场辐射敏感度。
五大组合和措施实现抗干扰调试
更多应用和资料请下载: 7、下载:OIE1抗干扰开发系统的中文说明书
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