OI-GTEM系列GTEM小室

  • 简介:OI-GTEM系列GTEM小室,主要用于评估电子设备在电磁环境中的抗干扰能力和电磁辐射水平,为小型电子产品的辐射电磁场干扰敏感性提供有力的测试依据。与传统的开阔场和暗室测试相比,OI-GTE
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    OI-GTEM系列GTEM小室,主要用于评估电子设备在电磁环境中的抗干扰能力和电磁辐射水平,为小型电子产品的辐射电磁场干扰敏感性提供有力的测试依据。与传统的开阔场和暗室测试相比,OI-GTEM小室在进行干扰测试和抗干扰度测试时更为便捷、灵活,节省空间和成本。

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    主要规格和技术指标参数:

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