研发阶段用电磁敏感度测试套件四大作用

E1抗干扰开发系统用来模拟所开发出来设备的干扰过程，干扰电流、电场和磁场直接注入到电子模块，以不同的方式来确定电路板上的敏感结构，了解耦合机制，使设备达到最佳的抗干扰能力。其四大作用如下：
1.干扰电流路径分析

在类似静电等突发测试中，干扰电流流过被测设备的电子模块。在接地系统和/或信号回路感应电压间，相应的磁场产生电压差。 当被测设备产生一个功能故障时，后续的故障定位第一步是检测被测设备各个部分，例如：独立模块、单独的电缆连接，一个大模块的局部区域。
2.使用场源进行故障定位

功能故障往往由干扰电流的磁场或电场（耦合为场锁定）导致。为了定点干扰的地方，这些场要在一个小空间产生的磁场或电场与场源进行耦合。 如果一个功能发生故障时，当线路传导干扰电流流入和流出被测设备时，磁场源用于故障定位。电场源在以下情况下使用：场锁定耦合期间发生故障。
3.监测被测设备逻辑信号

当干扰耦合时，进行信号监测，从而认清干扰逻辑信号和测试EMC措施的效果。如果干扰是不能直接识别或在外面根本没有，这些测量显示针对待测物的瞬时工作状态。 S31传感器安装在被测设备里，用于信号监测。该传感器传递信号，该信号测试被测设备功能时，以下很重要：通过光纤在被测设备到SGZ21间不能相互影响。
4.测量脉冲或突发磁场

E1套件测量突发磁场，在测试设备和被测设备间没有任何相互影响，从而显示突发电流的状态。每个突发磁场的测量提供了两个结果：磁场大小和磁场方向。磁场线方向 - 电流以90°流入 - 通过转动探头很容易检测。这样很精确获得被测设备的磁场，并评估特别危险的结构。    

具体资料请下载：E1研发阶段电磁敏感度测试套件

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