利用4200-SCS参数分析仪， 对碳纳米晶体管进行电

4200-SCS参数分析仪在碳纳米场效应晶体管(CNT FET)电气特性分析方面具有多种优势。这个可配置测试系统可以简化灵敏的电气测量，因为它在一个集成系统内实现多个测试仪器的完美组合，包括硬件、交互软件、图形和分析能力。这些系统包括履行电气测量所需的预置测试，而且这些测量已为确保碳纳米场效应晶体管(CNT FET)的高精度测试结果而优化。本应用文章说明怎样利用4200-SCS参数分析仪，对碳纳米管场效应晶体管(CNT FET)的直流、脉冲I-V和C-V测量进行优化，包括有关正确布线和连接、防护、屏蔽、降噪技术的详细信息以及进行碳纳米管晶体管测试所需的其它重要测量考虑事宜。

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