高级损耗因子测量技术

　　一． 负损耗D问题

　　许多用户在使用 LCR 数字电桥或电容测量仪测量小损耗电容器时经常会遇到如下问题：

　　为什么使用上述仪表对电容器进行测量时损耗有时会显示负值？

　　从物理含义来说损耗表示电容器中耗能成分（即电阻成分）对储能成分所占的比重，而电阻是不可能为负的。

　　如对于串联等效方式损耗因子

　　对于并联等效方式损耗因子

　　以下从几个方面说明产生负损耗的原因，并讨论如何正确使用仪表的方法，以帮助理解和解决此类问题。

　　二． 负损耗D产生的原因

　　概括起来说，有以下几个方面的原因可能会引起负损耗的产生：

　　A． 测试仪表有限的准确度；

　　B． 过度的补偿（过度的短路清“0”）；

　　C． 接触电阻的影响；

　　D． 存在于测试电缆和测试端子间的复杂杂散参数。

　　A．测试仪表有限的准确度

　　任何元件参数测试仪器的准确度均是有限的，由于有限的准确度便会造成测试的不确定性。

　　从原理上，电容器的损耗在阻抗平面上可表示为阻抗矢量与虚轴夹角δ 的正切值，图1 所示。

　　当电容器以串联等效方式描述时，损耗可以下述公式计算：

　　更多资料请下载：高级损耗因子测量技术(D参数).pdf

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