OI-EASU432型EMI扫描仪与频谱仪的电磁干扰（EMI）测试方案

实验背景：

在电子设备的设计与制造流程中，电磁干扰（EMI）占据着举足轻重的地位，是不可或缺的考量要素。鉴于某些设备在运作时可能释放出高强度的电磁辐射，进而对周边设备的稳定运行构成潜在威胁。我们借助EMI扫描仪、近场探头以及频谱分析仪等尖端工具，来精准地识别并锁定这些干扰源头。通过集成高效能的测试设备，实现对电子设备电磁辐射特性的全面剖析。

实验目的：

1、识别设备或电路板上的电磁干扰源

2、测量干扰的频率和强度

3、定位潜在的干扰区域并评估其对周边设备的影响

实验设备：

OI-EASU432型EMI扫描仪和软件：作为高精度的电磁辐射测量与分析工具，该扫描仪能够精确操控探头位置与扫描轨迹，确保对被测设备（DUT）的全面覆盖。通过自动化扫描与先进的软件控制，我们能够显著减少人工干预，提升测试效率与精度。

OI-ICSET40GHz无源近场探头组：作为EMI表面扫描的核心组件，这些探头能够敏锐捕捉DUT表面的局部电磁场强度，无论是电场还是磁场，均能依据实际需求灵活选择。它们将捕捉到的信号传输至频谱分析仪进行进一步处理。

FSV3044频谱分析仪：频谱分析仪用于实时测量和分析近场探头采集到的电磁信号的频率和强度，为后续的数据处理和分析提供支持。

实验测试设备连接：

根据需要选择电场探头或磁场探头，将近场探头安装在扫描仪的探头支架上，确保其能准确接触或靠近DUT的表面。探头的校准和配置由测试软件控制，确保整个扫描过程中的数据一致性。将探头信号通过扫描仪或直接连接至频谱分析仪，并通过软件进行设备配置（如频率范围、分辨率带宽等）。将DUT放置在扫描仪的工作区域，确保其在正常工作状态下接受扫描测试。

实验步骤：

1.设备安装与校准：安装好近场探头，并确保扫描仪与频谱分析仪正常连接到测试软件，被测装置应通电并进行运行检查，以确保设备正常运行。

2.扫描与频谱分析：在测试软件中设定扫描路径、频率范围和数据采集参数，启动自动扫描与频谱分析。

3.数据采集与实时监测：测试软件实时采集和处理扫描与频谱数据，并以图形方式显示在用户界面上。

4.数据分析：软件自动分析采集的数据，识别并标记异常干扰源。

5.报告生成与管理：测试软件支持自动生成格式化的测试报告，并提供强大的数据管理功能，支持不同测试项目的数据分类。

实验技术要点：

探头的选择与校准：选择合适类型的探头（如电场探头或磁场探头），确保探头频率范围覆盖测试要求的频段，且在扫描过程中确保探头稳定、正确地定位，避免探头位置的偏移影响测量数据。此外，在不同的测试环境和条件下，应定期校准探头，以确保测量精度和重复性。

扫描路径与分辨率：精确设定扫描路径和分辨率（步进距离），以保证测试的全面性和数据的精细度。分辨率过高可能导致测试时间过长，而分辨率过低可能会漏掉重要的干扰源，需要在精度与效率之间找到平衡。扫描路径应覆盖DUT的所有关键区域，特别是电源输入、时钟电路和射频电路等敏感区域。

频谱分析仪的设置：根据待测设备的工作频率和可能的干扰频率，合理设置频谱分析仪的频率范围和分辨率带宽（RBW）。确保频谱分析仪的输入信号不会过载，避免导致失真或虚假信号出现。在采集不同频段信号时，频率范围的设定要合理，以确保捕捉到所有潜在的干扰信号。

测试环境与屏蔽：如有条件，应在屏蔽室内或其他低干扰环境中进行测试，尽量减少外界电磁噪声对测试结果的影响。定期检查测试环境中的背景噪声水平，确保其低于设备发出的干扰信号。

扫描结果的重复性和一致性：多次重复测试，可在不同时间段和环境条件下进行，以验证结果的一致性。每次测试应严格遵循相同的操作流程和设置，以减少人为因素对结果的影响，且在同一被测设备上进行的多次测试结果应具有高度一致性，差异过大的结果需重新检查设备和环境的稳定性。