OI-104A芯片抗静电测试系统结合了所有的ESD测试在一个系统中，该系统可包括128针全引脚组合ESD测试功能，以及符合IEC61000-4-2，GB/T17626.2、ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2017、AEC-Q100-002-REV-E、MIL-STD-883K、GJB548B-2005、AEC-Q100-003E的要求。

技术参数：

Ø  试验主机采用17寸显示触控屏

Ø  放电模型：HBM人体放电模型；借助预调节选件可以使用复杂测试和矢量模式使DUT矢量化，以实现出色的控制

Ø  最大输出试验电压（HBM）：±15kV

Ø  支持测试通道：128通道；测试和参数测量过程中可以使用嵌入式偏置电源控制DUT引脚

Ø  电压精度： ±5%+5V设置值

Ø  ESD重复次数：1到100

Ø  ESD周期：300 ms到5s，步进100 ms

Ø  测试电容/电阻：100PF/1500Ω，HBM脉冲源

Ø  符合标准：MIL，JEDEC，JEITA，ESDA，AEC，IEC，GJB

Ø  系统针对器件可进行高精度的V/I电源测试分析。以及正向电压、正向电流、反向漏电流等参数测试和自定义失效判定功能；

Ø  全自动测试程序，采用远程控制测试系统软件，测试数据可导出用于统计评估及演示，也可用于故障后数据、完整曲线追踪及特定数据点的测量

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